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半導體測試治具

半導體測試治具

詳細介紹

ICT測試治具可以直接對在線器件電氣性能來進行測試,在測試的過程中可以發現產品的不良器件。從內存單元讀取數據所需的時間,就是ICT測試治具的存儲器讀取時間,方法是這樣的:

1.往單元A寫入數據"0",單元B寫入數據"1",堅持READ為使能狀態並讀取單元A值。

2.地址轉換到單元B,實質上就是ICT測試治具丈量內存數據的堅持時間。

3.轉換時間就是從地址轉換開始到數據變換之間的時間。

4.暫停時間--內存單元能保持它狀態的時間。

5.刷新時間--刷新內存的最i大允許時間。

6.建立時間--輸入數據轉換必需提前鎖定輸入時鍾的時間。

7.堅持時間--鎖定輸入時鍾之後輸入數據必需堅持的時間。

8.寫入恢複時間--寫操作之後的能讀取某一內存單元所必須等待的時間。


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